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MP5424GRM-0000-Z

电子料号

MP5424GRM-0000-Z-WX
MP5424GRM-0000-Z

产品描述

5V电源管理IC,带四路4.5A/2.5A/4.5A输出

库存

466 件 全新原装现货
26-QFN PMIC,8路输出:4路同步降压+3路LDO;1.1MHz切换;处理器、FPGA和紧凑型嵌入式系统的高效多轨电源管理。
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技术规格

类别 电源管理(PMIC)、电源分配开关、负载驱动器

制造商 瑞萨电子公司

包装 -

操作温度 -40°C ~ 85°C (TA)

挂载类型 表面贴装

软件包/ 大小写 8-PowerWFDFN

系列 -

基本产品编号 SLG7NT

产品状况 过时的

输出类型 N沟道

产出数 1.

当前 - 输出( 最大) 4A

输入类型 互补金属氧化物半导体

供应商设备包 8-FC-TDFN(1.5x2)

切换类型 通用

电压 - 装入 -

输出配置 高边

电压-供应(Vcc/Vdd) 2.5V ~ 5.5V

比例 - 输入:产出 1:1

Rds 打开( Typ) 22毫欧姆

数据表文档( D)

数据表 下载SLG7NT614V产品规格书(PDF)

HTML 数据表 SLG7NT614V-DG

环境和出口分类

RoHS 状态 符合RoHS标准

湿度敏感度(MSL) 1(无限制)

欧洲化学品管制中心 EAR99

危险 8542.39.0001

补充资料

其他名称 SLG7NT614VTR 1695-SLG7NT614VDKR 1695-SLG7NT614VCT 1827-1125-6 1695-SLG7NT614VTR 1827-1125-2 1827-1125-1 1827-1125-2-DG 1827-1125-1-DG 1827-1125-6-DG

标准软件包 3,000

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常见问题解答

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在高端N沟道MOSFET驱动器应用中,SLG7NT614V可以作为SLG59M610V的插入式替代品吗?应该考虑哪些设计风险?

由于控制逻辑和启用时序特性的差异,SLG7NT614V不是SLG59M610V的直接替代品,尽管两者都是瑞萨电子的高端N沟道电源开关。SLG7NT614V使用CMOS输入电平,具有固定的1:1比率,没有板载电荷泵升压,而SLG59M610V包括自适应栅极驱动,可实现更好的Rds(on)控制。在传统的SLG59M610V设计中使用SLG7NT614V,在低压启动条件下(接近2.5V)存在栅极驱动不足的风险,可能会导致导通损耗增加。始终验证输入逻辑阈值兼容性,并模拟最坏负载条件下的开启瞬态,以确保可靠运行。
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在紧凑的1.5x2mm TDFN封装中使用最大4A输出电流的SLG7NT614V对热设计有何影响?

由于SLG7NT614V的8-FC-TDFN(1.5x2mm)占地面积较小,在4A连续电流下运行需要仔细的热管理。典型的Rds(on)为22mΩ,满载时功耗可达352mW(I²R),这可能会导致布局不良的PCB中的结温接近或超过限值。为了降低热风险,确保暴露的焊盘下方至少有2x2个热通孔连接到固体接地平面,使用≥2oz的铜层,并避免将设备放置在其他热源附近。在布局工具中使用红外摄像头或热垫模拟来监测早期原型的温度。
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SLG7NT614V的过时状态如何影响新设计的长期可靠性和供应链规划?

SLG7NT614V的过时状态意味着瑞萨电子不再保证长期可用性,增加了新产品推出的供应链风险。虽然目前有3050个作为新原装零件的库存,但这些零件可能不支持批量生产或延长生命周期的需求。在新设计中依赖这种PMIC可能会导致昂贵的重新设计或以后的最后一次购买。为了获得长期可靠性,请考虑MAX14577或TPS22919等抗淘汰替代品,或直接联系瑞萨电子以获取推荐的更换路径。设计缓解措施包括并行鉴定多个开关IC,或选择具有更高可用性的活动状态引脚兼容设备。
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在电容性负载超过100μF的负载开关应用中使用SLG7NT614V有什么风险?

在大电容负载(>100μF)下使用SLG7NT614V可能会产生超过4A峰值限制的浪涌电流尖峰,从而可能触发内部保护或导致电源轨电压下降。该设备缺乏可调节的转换速率控制,因此上升时间是固定的,导致输出电容快速充电。为了减少浪涌,在开关和负载之间放置一个小串联电阻器(例如10-50mΩ)或铁氧体磁珠,或通过外部定时控制使用交错加电顺序。始终使用实际负载和PCB寄生来模拟开启曲线,以验证安全操作。
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SLG7NT614V能否在工业环境中可靠地驱动3.3V微控制器电源域,动态负载瞬态高达3A?

SLG7NT614V可以驱动具有3A动态负载的3.3V MCU域,前提是输入电源在瞬态事件期间保持在2.5V以上,PCB布局可以最大限度地减少电感。然而,由于其固定的开启/关闭时间和缺乏主动限流,它可能无法对快速电流尖峰做出足够快的响应,从而增加了限电的风险。在输出端使用至少10μF的低ESR陶瓷电容,并确认MCU在最坏情况下通电和睡眠模式转换的稳定性。还要验证在-40°C至85°C的整个范围内的运行情况,因为Rds(on)会随着温度的升高而增加,这会加剧瞬态负载下的电压降。
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SLG7NT614V在高端N通道MOSFET驱动程序中能否用作SLG59M610V的落地替代,以及应当考虑什么设计风险?

SLG7NT614V型机车由于控制逻辑的不同,并且能够实现定时特性,尽管两者都是来自雷内萨斯的高侧N通道功率开关,但并非SLG59M610V型机车的直接落地换装. SLG7NT614V采用CMOS输入级,并有固定的1:1比,没有机载充电泵助推,而SLG59M610V包括适应性门驱动,用于更好的Rds(on)控制. 在遗留的SLG59M610V设计中使用SLG7NT614V,在低电压启动条件下(接近2.5V),有可能导致导电损失升高的风险. 在最坏情况下负载条件下,总是验证输入逻辑阈值兼容性和模拟转动瞬态,以确保可靠的操作.
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在紧凑的1.5x2mm TDFN包中,在最大4A输出电流下使用SLG7NT614V的热力设计影响是什么??

在4A连续电流下运行SLG7NT614V,因其小的8-FC-TDFN(1.5x2mm)足迹,需要小心的热管理. 由于典型的Rds(on)为22m加速度,动力消散在满载下可达352mW(I2R),这可能导致路口温度接近或超过铺设不良的多氯联苯的限度。 为了减轻热风险,确保至少2x2的热能通过与实心地面平面连接的暴露垫下,使用 2oz铜层,并避免将装置放置在其他热源附近. 在您的布局工具中用IR相机或热板模拟来监测早期原型中的温度.
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SLG7NT614V的过时状态如何影响新设计的长期可靠性和供应链规划?

SLG7NT614V的陈旧状态意味着Renesas不再保证长期供应,增加了新产品引入的供应链风险. 虽然目前有3050个单位作为新原始部件库存,但这些部件可能无法满足数量生产或延长生命周期的需要。 依靠这种PMIC进行新的设计,有可能造成费用高昂的重新设计或以后的最后一次购买。 就长期可靠性而言,应考虑使用MAX14577或TPS22919等耐过时的替代品,或直接与Renesas联系,以便找到推荐的替换路径。 设计缓解措施包括并行限定多个开关IC,或者选择可用性较高的活性状态针兼容设备.
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在电容超过100μF的负载开关应用程序中使用SLG7NT614V有什么风险?

使用具有大型电容负载(>100μF)的SLG7NT614V型机车,冒着超过4A峰值极限的冲压电流悬浮,有可能触发内部防护或引起供电铁路上的电压陀螺. 设备缺乏可调节的命中速率控制,因此升降时间固定,导致输出电容快速充电. 为减少冲刷,在开关和负载之间放置一个小串联电阻器(如10–50m加速度)或ferrite珠,或通过外部计时控制使用交错的功率提升序列. 总是用你的实际负载和PCB寄生物模拟开关剖面,以验证安全操作.
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SLG7NT614V能在工业环境下可靠地驱动一个具有动态负载转速可达3A的3.3V微控制器动力域?

SLG7NT614V可以驱动一个具有3A动态负载的3.3VMCU域,前提是在瞬时事件期间输入供应保持在2.5V以上,PCB布局最小化导电. 然而,由于它的固定的开关/关闭时间和缺乏主动的电流限制,它可能反应不够快,无法快速地加速电流的暴涨,增加了棕色脱落的风险. 在输出时至少使用10μF低ESR陶瓷电容,并与MCU最坏的功率提升和睡眠模式过渡确认稳定性. 同时在全-40°C至85°C范围内进行验证操作,因为Rds(on)随温度增加而增加,这可以加剧瞬态负载下的电压下降.

质量保证 (QC)

WINSURE 通过专业检测和批次抽检确保每个电子元器件的质量和真伪,保证可靠采购、稳定性能并符合技术规格,帮助客户降低供应链风险,放心在生产中使用元器件。

质量保证
Counterfeit and defect prevention

防伪与缺陷预防

外观与包装检测

Electrical performance verification

电气性能验证

Life and reliability evaluation

寿命与可靠性评估

WINSURE 认证
ISO 209001_2015
ISO 209001_2015
ISO 14001_2015
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